大型仪器设备技术交流系列讲座预告(三):材料的扫描电镜分析 2017年11月01日 扫描电镜(SEM)是利用电子束扫描样品表面产生形貌高分辨率图像的电子显微镜,是微区分析中最重要和使用最广泛的仪器之一。SEM具有制样简单、放大倍数连续可调(20-20万倍)、景深和视野大、富有立体感等优点。SEM上还可配备X射线能谱仪(EDS)和电子背散射衍射(EBSD)等附件,能同时进行微区形貌和晶面信息观察、微区成分分析等。 为促进校内SEM工程师之间的交流,提升大型仪器设备操作技能水平,提高用户制样和结果分析的能力,中心特邀请资深和优秀的SEM工程师开展专题研讨报告会。报告会将围绕SEM的原理结构、操作维护、功能开发和经典分析测试案例开展深入的研讨,欢迎校内相关工程师、科研人员、研究生和高年级本科生积极参加。参加讲座的师生请提前10分钟入场,遵守会场秩序,保持安静。 报告安排: · 王力群 高 工: SEM和能谱的原理结构和制样方法 · 高 琨 工程师: 场发射扫描电镜的特点及操作技巧 · 代艳竹 工程师: EBSD在材料分析中的应用 · 任子君 工程师: GeminiSEM500的功能、特点及应用