即日起至9月10日，校分析测试共享中心场发射透射电镜（JEM-F200）和高分辨透射电镜（JEM-2100Plus）开始对校内试运行！试运行期间，不收测试费。
JEM-F200是一款新型的冷场发射电子显微镜。该设备配置有HADDF附件，并采用全新概念的四级聚光镜设计，分别控制亮度和汇聚角，能最大程度发挥出STEM功能；安装有两个100平方毫米无窗探头及双能谱混合器，将普通电镜能谱的分析能力拓展到原子尺度。JEM-2100Plus是日本电子最新生产的一款六硼化镧高分辨透射电子显微镜，该设备采用3级聚光镜设计在任何束斑尺寸下都可以提供高亮度电子束，大大提高了分析和衍射成像能力，该设备与JEM-F200在功能上形成中高搭配，可完成材料、生命、纳米等诸多领域的微结构分析需求。
可实现的功能主要有：
1、微观结构研究：材料的形貌、结构、缺陷和界面的微观分析，包括衍衬成像、明场像、暗场像、STEM像、电子衍射、背散射电子/二次电子像和高分辨分析；
2、材料微观结构成分研究：成分的定性和半定量分析，包括点、线和面分析等。
有测试需求的师生可以通过Net ID登录大型仪器设备物联共享系统（http://equip.xjtu.edu.cn）进行预约使用，并填写附件中的设备预约使用信息登记单。
TEM样品要求：
（1）透射电镜不能做磁性样品；
（2）透射电镜能够观察200 nm以下的样品；
（3）对于块状样品，要求样品大小为直径3 mm的圆，厚度在200 nm以下；
（4）对于粉末样品，要求样品均匀分散在支持膜上且干燥，能够区分正反面；
（5）对于隐瞒样品信息而造成设备故障或损坏的，中心要求用户或用户课题组承担相应的维修费和误工费。
请务必提供样品的详细信息，隐瞒或谎报样品信息者将取消实验资格！
附件：设备预约信息使用登记表
