4月20日上午，JEM-2100Plus在西安交通大学分析测试共享中心一楼开箱，供货单位、日本电子工程师及中心相关人员到场参加。
JEM-2100Plus是日本电子最新生产的一款六硼化镧高分辨透射电子显微镜，加速电压80-200 KV。该设备采用3级聚光镜设计在任何束斑尺寸下都可以提供高亮度电子束，大大提高了分析和衍射成像能力，可以轻松实现透射高分辨像、明/暗场像、STEM像和衍射像等功能。配合能谱仪可实现面扫、线扫、点扫等成分分析。因此，该设备与JEM-F200 (HR)在功能上形成中高搭配，可完成材料、生命、纳米等诸多领域的微结构分析需求。预计1个月左右完成安装调试。
