各位师生，大仪实验中心新购的200kv单球差校正透射电镜（JEM-ARM200F）、300kv双球差校正透射电镜（JEM-ARM300F2）已完成仪器硬件安装，各项功能调试正在有序进行中，由于设备功能配置复杂，调试周期较长，中心拟采取边调试边运行的形式逐步开放设备功能，以便设备尽早服务广大师生。目前单/双球差校正透射电镜的原子像功能已完成调试，已具备开放使用条件，其他功能还在调试中。即日起至9月1日将免费为广大师生开放试用两台设备的原子像功能，欢迎有使用需求课题组与设备管理人员联系，进行送样预约登记。
（1）单球差校正透射电镜JEM-ARM200F NEOARM
该仪器设备标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪（Cold-FEG）和全新的高阶球差校正器（ASCOR）。无论是在200 kV的高加速电压还是在30 kV的低加速电压下，均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统，可以自动进行快速准确的像差校正。
仪器主要技术指标：
1.加速电压：30-200 kV
2.球差校正器：ASCOR聚光镜球差校正器（NEO ASCOR HOAC），可以校正五阶像差，一体化球差校正器控制软件COSMO集成在TEM软件里
3. STEM分辨率：≤78 pm (200kV)
4.配置明场和暗场像探测器：可以实现BF、DF和ABF成像
5.配置多分割STEM探测器：可实现目前现有所有STEM成像模式，包括DPC、HAADF、ADF、ABF，可以实现对轻原子成像及易受电子束流损伤样品的成像；可以实现材料内部磁场和电场的探测。
6. EDS探测器：SDD电制冷探测器，2×100 mm2
7.配置Oneview IS相机
8.配置原位双倾加热/冷冻样品杆
（2）双球差校正透射电镜JEM-ARM300F2
该设备是一台300kV球差校正电镜，可在超高空间分辨率下进行多种材料观察，并能在宽的加速电压范围内进行高度灵敏的分析。该设备采用第二代冷场电子枪、全新的“FHP2”物镜极靴、独特的12极子球差校正器以及自动校正软件结合超高的电气和机械稳定性使其可以轻松实现超高原子级分辨率成像，结合超大面积EDS可实现高效的元素分析。在功能上，可以对材料样品短时间内得到原子级分辨率的图像，结合高灵敏度能谱仪（EDS）和能损谱仪（EELS）可实现样品的快速的原子级成分和价态分析；配置带有SAAF探测器，还可以实现特定类型材料的磁场和电场分布分析；配置的4D-STEM组件可以得到每个像素点的四维信息，创建各种类型的STEM图像。
仪器主要技术指标：
1.加速电压：40-300 kV
2.球差校正器：12极子ETA球差校正器，带COSMOTM一体化自动校正软件
3. STEM分辨率：≤53 pm (300 kV)
4. SAAF探测器：材料内部磁场和电场分布观测
5. EDS探测器：超大面积2×158 mm2
6.配置4D-STEM组件
7.配置Oneview IS相机
8.配置电子能量损失谱：Quantum1065
9.配置原位双倾加热/冷冻样品杆
样品要求：
1.样品没有磁性
2.厚度在50 nm以下
3.样品要将有机物等污染处理干净
温馨提示：
1、采取电话预约、送样预约，根据预约先后顺序，累计收样50个，先到先得。每个课题组限制2个样品。
2、目前仅开放原子像拍摄功能（其他功能将根据安装调试情况陆续开放）。
4、并不是所有样品都能获得理想的数据结果，建议先在普通透射电镜上筛选检查样品，再与工程师探讨可行性。
5、假期期间中心工程师轮岗值班，样品测试时间将根据工程师值班时间定。由于设备仍处于安装调试阶段，如遇厂家工程师安装调试，将顺延测试。
设备联系人：马传生李娇
电话：1869163861218392137838
地点：创新港校区18号副楼18-1014、18-1008
附：透射电镜组技术人员假期值班安排
7月31日—8月4日李超
8月7日——8月11日李娇
8月14日—8月18日马传生
8月21日—8月25日马传生、李娇、张杨
8月28日—9月1日李超、张杨
