X射线衍射仪(XRD)兴庆校区

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一、主要规格及技术指标

1、X射线线焦斑大小:0.04×12 mm,点焦斑大小0.4×1.2 mm,可完成点焦斑与线焦斑自动切换;

2、测角仪:测角仪半径> 280 mm,2?转动范围:-110~168°,可读最小步长 0.0001度,角度重现性 0.0001度;

3、二维功能探测器,活性面积:14mm × 16mm;

4、低温原位分析腔体:工作温度范围: -160~450℃,控温精度:+/-0.1℃;

5、环境加热原位分析腔体: 工作温度范围:室温~1100℃,控温精度:+/-0.1℃;

6、直接加热原位分析腔体:工作温度范围:室温~1600℃,控温精度:+/-0.1℃

二、主要功能及特色

能够精确对金属和非金属多晶粉末样品进行物相检索分析、物相定量分析、晶胞参数计算和固溶体分析、晶粒度及结晶度分析等

三、主要附件及配置

配有三种样品台:标准样品台,尤拉环样品台,变温样品台(高、中、低温)