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关于JEM-2100Plus运行及培训的通知

来源: 发布时间:2025-03-14 点击量:

各位师生:

为提高设备开放共享效率,有效缓解创新港透射电镜的预约使用压力,原放置于兴庆校区的JEM-2100Plus已于近日搬迁至创新港,并完成安装调试工作。

该设备后续将采取自主操作为主,兼顾委托测试的方式运行。为保证师生正常预约使用该设备,中心拟常态化开展JEM-2100Plus自主操作培训,欢迎有使用需求的师生积极参加培训,以便为您的科研工作提供更加便捷有力的支持!

培训具体安排及要求如下:

1、申请参加培训的师生填写《分析测试中心用户操作技能培训报名表》(http://iac.xjtu.edu.cn/yhzn/ywbl1/xnyhyw/zzczpxyw.htm进行下载),经导师签字后将申请表交至分析测试中心18-1020。

2、根据报名情况安排培训,电话通知具体时间。每期培训人数3-4人,原则上每个课题组参加人数最多2人(会根据使用情况进行微调)。

3、培训时长及收费情况:集中培训练习1天,不收培训费;次日依次一对一上机指导,自带样品,每人2小时,350元/小时/人,不参加指导练习者自动扣除相应费用。

4、通过考核并获得自主操作资格的用户,可在非工作时间预约使用仪器。获得自主上机资格后,应为本课题组的样品提供测试支持。

5、获取JEOL JEM-2100Plus自主上机权限后,如有需要,可申请JEOL JEM-F200、单/双球差的自主上机培训,培训要求参照相应设备的培训方案。

六硼化镧高分辨透射电镜(JEM-2100Plus)是一款适用性非常广泛的电子显微镜,200 kV下的分辨率:点分辨率≤0.19 nm,线分辨率≤ 0.14 nm。该设备采用3级聚光镜设计,在任何束斑尺寸下都可以提供高亮度电子束,大大提高了分析和衍射成像能力,可以轻松实现明/暗场像、HRTEM、STEM像和SAED等功能。配合能谱仪可实现面扫、线扫、点扫等成分分析,广泛应用于金属、矿物、半导体、陶瓷、生物、高分子、催化剂等材料的纳米尺度微分析。

(1)形貌观察(配备三样品杆,可快速筛样)

(2)高分辨观察

(3)明/暗场像、选区电子衍射

(4)能谱分析

样品要求如下:

1、透射电镜不能做磁性样品;

2、透射电镜能够观察200 nm以下的样品;

3、对于块体样品,要求样品大小为直径3 mm的圆,厚度在200 nm以下;

4、对于粉末和液体样品,要求样品均匀分散在支持膜上并且干燥,能够区分正反面。

设备放置地点:创新港校区18号楼辅楼分析测试中心18-1020

设备工程师:李娇18392137838