【分析测试技术论坛第83期】透射电镜电子能量损失谱(EELS)和能量过滤像(EFTEM)技术培训

一、培训安排

题目：

透射电镜电子能量损失谱(EELS)和能量过滤像(EFTEM)技术培训

报告人：

Gatan 应用专家 袁昊博士

Gatan 应用专家 陆畅博士

时间：

2023年12月12日（周二）至12月14日（周四）

地点：18号楼副楼分析测试中心5002。

二、培训内容

1. 利用EFTEM 技术进行元素面分布分析

2. 高级EELS采集技术—扩展动态范围及Dual EELS

3. 高级EELS谱处理技术，多元线性最小二乘法和非线性最小二乘法拟合

4.在高能量分辨率下进行化学相鉴别和面分布分析

5. 原子级分辨率的EELS分析

6. 如何设置电镜的操作参数来优化EELS数据

7.时间分辨率EELS

三、课程安排

四、参与方式

对EELS和EFTEM功能感兴趣的校内师生均可以免报名费参加本次培训中的理论课堂讲学和数据处理课程。有操作使用需求的校内师生也可以向Gatan 公司交纳报名费，可以额外进行上机操作培训。具体内容详见Gatan微信公众号 https://mp.weixin.qq.com/s/cwCnp_lennkfxb5JSGPAjQ

五、内容摘要

电子能量损失谱（EELS）是（扫描）透射电子显微术中重要的分析表征技术，通过安装在透射电子显微镜镜筒底端的 EELS 谱仪系统对穿过样品的高能电子束的能量分布进行采集。借由对高能入射电子与样品之间的各种能量交互作用过程的分析，我们可以从 EELS 谱中获取丰富的样品信息，进而达到对样品更为全面的理解。这些信息包括样品的厚度、纳米尺度上的光学响应行为、所包含的元素种类与含量以及这些元素所处的键合环境、价态或电子结构等等。

西安交通大学（创新港校区）分析测试中心配备了Gatan公司最新一代EELS及EFTEM系统 GIF Continuum 1065，安装于日本电子 GrandARM 300 球差校正电镜上，利用主机提供的高空间分辨率的电子光路，能够实现从微米到纳米直至原子尺度上的 EELS 表征能力。本次培训将兼顾理论知识与上机实操经验的分享，以及数据后处理过程中的软件使用技巧传授。