大仪实验中心TCS SP8 STED 3X超高分辨激光共聚焦显微镜配置了405nm激光器、多线氩离子激光器（458/476/488/496/514nm）、白激光（470-670nm任意可调），可实现紫外、可见到近红外波长范围内的常规共聚焦显微成像，同时搭配有两台PMT检测器和两台超灵敏HyD检测器，可轻松去除反射光和杂散光干扰，也可以搭配单分子探测（SMD）系统实现荧光寿命成像（FLIM）和荧光相关光谱（FCS）检测。应用受激发射损耗（STED）技术，该设备能实现50 nm以下的分辨率，可进行单色、双色及三色荧光标记固定细胞或活细胞的STED超高分辨成像。
为了更好的服务于各相关科研团队，中心拟定于3月25-26日开展超高分辨激光共聚焦显微镜高阶应用培训，本次培训包括理论培训和上机培训两部分。
本次培训同时安排图像分析统计软件AIVIA使用体验，现收集典型数据处理案例，欢迎有图像分析统计需求的师生参与交流，如有需要请与中心工程师联系（郝英18092117169）。
培训时间：2024年3月25-26日
培训地点：18号楼副楼5002会议室
主讲人：郝 英 分析测试中心工程师
王文静 徕卡应用专员
殷艺璇 徕卡应用专员
日程安排 |
3月25日 |
时间 |
内容 |
报告人 |
9:30-10:10 |
白激光共聚焦高阶应用--FLIM、FRET、FRAP及全光谱扫描成像 |
王文静 |
10:10-10:50 |
AIVIA人工智能助力图像数据分析 |
殷艺璇 |
10:50-11:00 |
休息 |
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11:00-11:30 |
STED技术原理、发展及应用 |
王文静 |
11:30-12:00 |
分析测试中心超高分辨激光共聚焦显微镜预约使用及培训注意事项 |
郝英 |
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14:30-15:30 |
AIVIA操作体验 |
分组1 |
14:30-15:30 |
白激光高阶应用培训（激发光谱扫描、FRAP、FRET等） |
分组2 |
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15:30-16:30 |
白激光高阶应用培训（激发光谱扫描、FRAP、FRET等） |
分组1 |
15:30-16:30 |
AIVIA操作体验 |
分组2 |
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3月26日 |
9:30-10:30 |
STED上机培训 |
分组1 |
9:30-10:30 |
AIVIA现场数据处理 |
分组2 |
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10:30-11:30 |
AIVIA现场数据处理 |
分组1 |
10:30-11:30 |
STED上机培训 |
分组2 |
报名须知：
1.为保证培训质量，共聚焦显微镜上机培训会分批按需进行，每次上机培训人数不超过5人，以先后报名顺序进行排序，参加并完成理论培训及考核的相关人员，才可进入下一阶段培训，参加完全部培训考核之后，方可申请中心成为自主操作用户，享受相应权利。
2.本次报名需二维码报名并现场签到，培训前已经提交电子版和纸质版培训报名表的同学，请按要求扫码报名后准时参加理论培训。
3.请需要参加上机培训的师生在报名时，按需勾选培训内容，以便后期合理安排培训批次。
4.本设备上机培训暂时仅针对校内师生开放，校外师生可联系设备管理员咨询相关事宜。
报名方式：
访问链接：http://iacxjtu7.mikecrm.com/wLkUEz7
或扫描二维码：
联系人：郝英18092117169 刘若媛15929995451
邮箱：haoying0716@xjtu.edu.cn
大仪实验中心
二零二四年三月十九日
