相位调制型高精度光谱椭偏仪UVISEL Plus试运行通知

椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术，基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变，通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以及光学性质，如折射率和消光系数等等，可测厚度范围为1埃至几十微米，光谱覆盖190-885nm，可扩展至2100nm。

分析测试中心已经完成椭偏仪UVISEL PLUS的安装调试工作，具备开放使用条件，为使广大师生尽快熟悉相关设备性能，从即日起至2022年8月31日试运行，运行期间前100个样免费测试，每个课题组限免费10个样，超出部分按照原价5折收费。试运行期间暂时不开放各向异性光学性质以及变温测试功能，其他功能正常开放。欢迎各课题组师生试用体验。

基本信息：

型号：UVISEL PLUS

制造商：HORIBA

光谱范围：190-885nm，可扩展至2100nm

主要功能：

1. 光谱190-885nm内的折射率以及消光系数

2. 表征有机/无机块体材料以及薄膜样品厚度

3. 界面粗糙程度测量

4. 各向异性薄膜材料的光学性质表征

主要用途：

主要用于常见有机/无机块体材料以及薄膜材料的光学性质，例如折射率以及消光系数的表征，薄膜材料的厚度以及粗糙程度的测试，主要应用于微电子，光电子，太阳能，生物化学，柔性材料，包装以及冶金领域。

联系人：刘晓云

电话：15502956387

邮箱：422563992@qq.com

放置地点：创新港校区18号辅楼3016