电镜中心显微镜专家日

来源：发布时间：2022-06-16 点击量：

您在进行显微成像表征的时候，是否有过以下疑问：

纠结于 SEM 众多探头该如何选择？

“危险”的磁性样品该怎样在 SEM 中表征？

样品不导电但又不能喷金也可以成像吗？

SEM 也能观察位错？ECCI 是什么原理？

越来越热门的“原位实验”能为你的科研带来什么帮助？

如何三维无损且高分辨获取样品内部信息？

本次线上研讨会将对以上内容做详细介绍。对于有代表性的疑难杂症，分析测试中心将联合蔡司应用专家提供专业优化的实验方案，诚邀您通过扫描下方的二维码报名参加！

线上技术研讨会

活动日程:2022年6月22日周三下午 14:30-16:30

14:30-15:30 常见SEM成像问题和拓展技术分享高迪（蔡司西北区域电镜应用主管）

15:30-16:30 三维无损显微成像技术科研成果分享时文（蔡司 X射线显微镜资深应用专家）

上机演示与交流

活动日程：敬请期待下一轮通知

通知公告