大型仪器设备技术交流系列讲座预告（三）：材料的扫描电镜分析

扫描电镜（SEM）是利用电子束扫描样品表面产生形貌高分辨率图像的电子显微镜，是微区分析中最重要和使用最广泛的仪器之一。SEM具有制样简单、放大倍数连续可调（20-20万倍）、景深和视野大、富有立体感等优点。SEM上还可配备X射线能谱仪（EDS）和电子背散射衍射（EBSD）等附件，能同时进行微区形貌和晶面信息观察、微区成分分析等。

为促进校内SEM工程师之间的交流，提升大型仪器设备操作技能水平，提高用户制样和结果分析的能力，中心特邀请资深和优秀的SEM工程师开展专题研讨报告会。报告会将围绕SEM的原理结构、操作维护、功能开发和经典分析测试案例开展深入的研讨，欢迎校内相关工程师、科研人员、研究生和高年级本科生积极参加。参加讲座的师生请提前10分钟入场，遵守会场秩序，保持安静。

报告安排：

·         王力群  高   工： SEM和能谱的原理结构和制样方法

·         高   琨  工程师： 场发射扫描电镜的特点及操作技巧

·         代艳竹 工程师： EBSD在材料分析中的应用

·         任子君 工程师： GeminiSEM500的功能、特点及应用