分析测试共享中心小角X射线散射仪试运行通知

校分析测试共享中心购置的Anton Paar SAXSpoint 2.0小角X射线散射仪已经安装并调试完成！该设备配备了微焦斑X射线源以及定制的高精度光学元件和最新的混合光子计数探测器（EIGER R 1M），适用于实验室进行SAXS/GISAXS纳米结构分析，分析各向异性材料和几乎任何材料的纳米结构表面，获得样品的颗粒结构、颗粒/大分子组装体以及原子水平结构的信息，以便确定材料的粒径、粒径分布、颗粒形状、结构变化和动态特性等。样品范围为聚合物（如液晶和高分子微结构）、悬浮液、胶体、聚电解质、表面活性剂、纳米颗粒、介孔材料、生物大分子等。

为了让广大师生更好的体验该设备的先进功能和性能，2019年1月2日至2019年1月24日试运行，试运行期间，校内用户免收测试费，仅收取耗材成本费（每样30元），每个课题组在试用期限5个样品。

样品要求：

本仪器主要检测粉末，溶液和薄膜样品，尺寸为1-100nm，试运行期间主要测试SAXS，暂不接受薄膜样品的GISAXS测试。样品要求如下：

1）溶液样品：浓度建议为5-20mg/mL，使用水或乙醇均匀分散，不沉降，待测样品不得使用有机溶剂如氯仿、苯、丙酮等。

2）粉末样品： 0.5g左右，不团聚，研磨过，粉末无颗粒感。

注：请大家自觉维护平台运行，对于隐瞒样品信息而造成设备故障或损坏，所有损失由用户所在课题组全部承担。

测试时间：周一至周五，8:30-12:00， 14:30-18:00。

联系人：黄畅，手机15934800896