第26期分析测试技术论坛——电子背散射衍射技术培训会成功举办

2019年12月3-4日，分析测试中心主办的第26期分析测试技术论坛——电子背散射衍射技术培训会成功举办。电子背散射衍射(EBSD)是一种用来分析多晶材料显微结构和组织的扫描电子显微镜技术,近年来已经被广泛应用于不锈钢材料的分析,对其晶界类型、织构、位向差和相结构等进行观察。本次培训会邀请厂商资深应用工程师，围绕EBSD技术为出发点，对测试方案、制样技巧、测试结果、制样技术、数据后处理等展开培训，旨在提高学生及相关人员的设备操作能力、数据分析能力。

首先，由分析测试共享中心副主任孟令杰教授致欢迎辞，他希望通过此次培训会为广大师生提升技能、排疑解惑，同时也预祝本次培训会议圆满成功。随后牛津仪器纳米分析部张亚武经理致辞，介绍牛津仪器尖端设备的技术优势。

首场报告由牛津仪器应用技术专家陈帅博士呈现，他首先针对在EBSD数据采集过程中影响图像质量和采集速率的因素（如加速电压、工作距离）进行介绍，并就机械抛光、电解抛光、离子抛光等样品制备知识做了详细说明。下半场报告由牛津仪器应用技术专家杨小鹏博士从晶体学基础出发，进一步深入解读EBSD原理，并对EBSD的Channel5后处理模块进行了详细介绍。

4日上午，在上机操作及答疑现场，杨博士和陈博士分别通过上机演示，结合EBSD的理论，加深广大参会人员对本次会议内容的理解；通过软件演示，进一步提升了科研人员对数据处理分析的能力。此次会议在激烈的讨论中圆满落幕。

分析测试技术论坛旨在培养研究生分析测试技术能力，提升实验技术人员技术服务水平，论坛定期邀请国内外高校院所相关领域的知名教授、设备运行高级工程师、厂商资深应用工程师等，围绕相关领域和设备的测试方案、制样技巧、测试结果等展开讲座与研讨。今后，中心将继续秉持“分享、交流、创新”的理念，持续提高技术交流和培训的质量，不断提升学校分析测试技术水平，助力学校“双一流”建设。