中心购置的日本电子JEM-F200 (HR)是一款新型的冷场发射电子显微镜,线分辨率达到0.1nm,是我校目前最先进的场发射透射电镜。该设备配置有HADDF附件,并采用全新概念的四级聚光镜设计,分别控制亮度和汇聚角,能最大程度发挥出STEM功能;安装有两个100平方毫米无窗探头及双能谱混合器,将普通电镜能谱的分析能力拓展到原子尺度;低剂量曝光技术和图像三维重构软件可提供独特的图像三维重构功能。
为了让师生更好的了解该设备的功能效果,并支撑学科高水平科学研究,中心免费征集了10个代表性样品,由李娇工程师于9月26日下午2:30―6:00在中心的透射电镜室南107进行了场发射透射电子显微镜的功能演示和技术培训。来自能动、电气、理学院和材料等学院的10名教师和研究生参加基本操作培训。
通过本次功能演示和操作培训,让我校师生更直观的了解该设备的结构、工作原理、功能特点。该设备强大的高分辨成像、STEM成像像、选区电子衍射、背散射电子/二次电子成像和EDS分析等功能激起了参与师生极大的兴趣,大家踊跃争相参与和感受设备的功能操作。
中心将凭借这些先进的设备和一流的分析测试技术,为学校的双一流建设提供强有力的支撑。