电话：15891798619
邮箱：renzijun@xjtu.edu.cn
管理仪器：X射线成像仪（XRM）、场发射扫描电镜（GeminiSEM 500）、 多功能离子减薄仪等制样设备
- 首页
- 中心概况
-
仪器设备
- 返回上一级
- 所有设备一览表
-
微区分析
- 返回上一级
- 冷冻电镜（Talos F200c）
- 聚光镜球差校正电镜(JEOL/JEM-ARM200F NEOARM)
- 聚光镜/物镜双球差校正电镜（JEOL/JEM-ARM300F2）
- 场发射透射电子显微镜（JEOL/JEM-F200(HR)）
- 高分辨透射电镜（JEOL/JEM-2100plus）
- 洛伦兹场发射透射电镜（Thermo/Talos F200X）
- 120KV透射电镜（Thermo/Talos L120C）
- 场发射扫描电子显微镜(Zeiss/GeminiSEM 500)
- 场发射扫描电子显微镜（Zeiss Sigma 300）
- 钨灯丝扫描电镜（Hitachi/SU3500）
- 钨灯丝扫描电镜（Zeiss/EVO10）
- 原子力显微镜（Shimadzu/SPM-9700HT）
- 聚焦离子束电镜（Thermo/Helios 5 UX）
- 金相显微镜（Axio Scope A1）
- X射线成像仪（Zeiss/Xradia 610 Versa）
- 小动物活体荧光成像系统（IVIS）
- 场发射电子探针显微镜（FE-EPMA）
- 多功能离子减薄仪（Leica EM RES102）
- 激光共聚焦粗糙度测量系统（Leica DCM8）
-
无机成分分析
- 返回上一级
- X射线光电子能谱仪(Thermo/ESCALAB Xi+)
- X射线衍射仪（Bruker/D8 ADVANCE）
- X射线单晶衍射仪（Bruker/D8 Venture）
- 小角X射线散射仪（Anton paar/SAXSPoint 2.0）
- X射线荧光光谱仪（Bruker/S8 Tiger）
- 时间飞行二次离子质谱仪（IONTOF/M6）
- XPS及真空互联系统
- 电感耦合等离子体质谱仪（PE/NexION 350D）
- 原子吸收光谱仪（PE/PinAAcle900T）
- 光学接触角/表面张力测量仪（DSA100S）
- 手持式X射线荧光光谱（Thermo Scientific Niton XL5 Plus））
-
有机成分分析
- 返回上一级
- 显微红外光谱仪（Bruker VERTEX70）
- 紫外-可见-近红外分光光度计（PE/Lambda950）
- 核磁共振波谱仪（Bruker/AVANCE III HD 600MHz）
- 核磁共振波谱仪（JEOL/JNM-ECZ400S/L1 400MHz）
- 固体核磁共振波谱仪（400MHZ NMR）
- 时间飞行液质联用系统（waters/I-Class VION IMS Qtof）
- 超快速高分辨质谱仪（Thermo/Q Exactive PLus）
- 三重四极杆液质联用仪（Thermo/TSQ Quantis）
- 三重四极杆气质联用仪（Agilent/8890-7000D）
- 同步热分析红外气质联用仪（PE/STA8000--FTIR-Clarus 690 SQ8 GC/MS）
- 高压分析型离子色谱仪（940 Professional IC Vario）
- 瞬态稳态荧光光谱仪(FLS1000)
- 瞬态稳态荧光光谱仪（FLS980）
- 超高分辨共聚焦显微镜（Leica/TCS SP8 STED 3X）
- 超高效凝胶渗透色谱仪（Waters/ACQUITY）
- 顶空-气相色谱仪（Shimadzu/HS-10/GC-2010Pro）
- 顶空-气相色谱仪(Agilent/7697A HS/8890 GC)
- 热解析-气相色谱仪（Agilent/TD100-xr/Agilent 8890）
- 元素分析仪（Elementar/Vario EL cube/rapid OXY cube）
- 时间分辨红外光谱（INVENIO）
- 时间分辨吸收光谱（Na100））
-
材料性能分析
- 返回上一级
- 激光共聚焦显微拉曼光谱仪（Horiba/HR Evolution）
- 激光共聚焦显微拉曼光谱仪（Thermo/DXR2xi）
- 激光共聚焦显微拉曼光谱仪（Renishaw/invia Qontor）
- 稳态瞬态荧光光谱仪（Edinburgh/FLS980）
- 相位调制型高精度光谱椭偏仪（UVISEL PLUS）
- 荧光分光光度计（PE/LE-55）
- 圆二色光谱仪（Jasco/J-815）
- 同步热分析红外气质联用仪（PE/STA8000--FTIR-Clarus 690 SQ8 GC/MS）
- 同步热分析（Mettler Toledo/TGA/DSC3+）
- 动态热机械分析仪（Netzsch/DMA242E）
- 差示扫描量热仪（TA/DSC250）
- 化学吸附仪（Micromeritics/ChemTM II 2920）
- 物理吸附仪（Micromeritics/ASAP 2020 Plus HD88）
- 磁学测量系统（QD/MPMS-SQUID VSM-094）
- ZETA电位及纳米粒度仪（Malvem/Zetasizer Nano ZSE）
- 综合物性测量仪（PPMS）
- 技术力量
- 用户指南
- CMA资质认定
- 党建园地
- 联系我们
