沣东科技资源共享平台专业技术服务论坛XPS与ToF-SIMS技术分析专题会
一、主旨与目的
近年来，固体表面分析已逐步发展为仪器分析的重要范畴，特别是对固体表面材料的元素和化学价态分析，目前常用的方法包括XPS（X-Ray Photoelectron Spectroscopy， X 射线光电子能谱分析）和ToF-SIMS（Time of Flight-Secondary Ion Mass Spectroscopy，飞行时间二次离子质谱）。XPS可对各种材料样品提供高精度的元素成分、价态、相对含量、浓度掺杂及表面、深度分布等功能分析，目前该分析方法在日常表面分析工作中的份额约50%，是一种重要的表面分析工具。ToF-SIMS是一种高灵敏的表面分析技术，可以检测元素周期表上的所有元素、同位素，且可以分析有机分子离子碎片，对有机生物样品进行准原位的分子结构解析，广泛应用于物理学、化学、材料科学、生物医学等研究领域。
根据平台科研用户需求反馈，本期沣东科技资源共享平台专业技术服务论坛活动聚焦XPS与ToF-SIMS技术的解析与应用，邀请西安交通大学的资深业内专家、高级工程师进行专题交流与探讨，答疑解惑研发人员在实际产研发测试工作中遇到的技术难题，为科技创新发展赋能助力。
二、主题
专业技术服务论坛-XPS与Tof-SIMS技术专题会
三、活动时间及地点
2020年11月18日（周三）
签到时间：下午13：40-14:00
活动时间：下午14：00-16:30
西安交通大学创新港校区18号楼辅楼5002
四、主办单位
西咸新区沣东新城新经济局（科统办）
咸阳市渭城区科学技术局
西安交通大学分析测试中心
五、承办单位
西安沣东仪享科技服务有限公司
西安联易共享信息科技有限公司（易科学）
六、协办单位
光谷创业咖啡
七、参会人员
高校师生、企业研发人员
八、邀请嘉宾
周国庆西安交通大学分析测试中心副研究员/高级工程师
刘佳梅西安交通大学分析测试中心工程师高级工程师
九、活动安排
13:40-14:00 |
签到 |
14:00-14:05 |
主持人开场 |
14:05-15:05 |
专家分享一“ToF-SIMS分析技术” |
15:05-16:05 |
专家分享二“XPS技术及谱图分析” |
16:05-16:25 |
问答环节 |
16:25-16:30 |
合影留念 |
十、扫码报名
联系人：田老师：17392868276 /029-84518659
李老师：15321555944
2020年11月11日
嘉宾介绍：
嘉宾一：
周国庆，男，副研究员，工学博士。长期从事无机、同位素质谱学研究，2017年进入西安交通大学分析测试中心，主要负责无机成分分析检测工作。
嘉宾二：
刘佳梅，女，高级工程师。主要从事X射线光电子能谱仪、热分析类设备的分析测试工作及技术研究工作。擅长表面分析技术，开发了半导体光生电荷分离与迁移原位XPS表征技术，并为实验室搭建一套多相加氢反应催化剂的准原位表征装置。承担和参与过中国科学院仪器功能开发项目、陕西省科技厅科技创新项目、国家自然科学基金项目、国家科技部“863”计划和中科院“西部之光”等项目。
