“分析测试技术论坛”—第6讲：扫描电镜应用技术

讲座一

讲座名称：眼见未必为真——扫描电镜模式和参数的合理选择

讲座时间：2018年6月6日（星期三）14:30

讲座地点：分析测试共享中心一楼北109培训教室

讲座人：李廷

讲座内容：

从扫描电子显微镜的构造、原理及观察过程介绍开始，帮助用户深入了解SEM的功能；重点通过具体案例讲解如何针对不同材料的模式和电镜参数选择，获得理想的电镜结果；对常见的图像“异常”原因进行分析并给出主要的解决办法。另外，介绍几种常用的制样工具与设备，并通过案例讲解特殊制样技巧。

讲座人介绍：

李 廷，天美（中国）科学仪器有限公司电镜应用工程师，长期从事扫描电镜、透射电镜以及电镜周边附属设备的应用和技术支持工作。曾长期在浮法新技术国家重点实验室测试中心工作，尤其擅长半导体和绝缘体等导电性差的复杂样品电镜测试。

讲座二

讲座名称：场发射与钨灯丝扫描电镜的选择使用及经典案例分析

讲座时间：2018年6月6日（星期五）16:00

讲座地点：分析测试共享中心一楼北109培训教室

讲座人：任子君

讲座内容：

报告以中心的Gemini SEM500场发射和SU3500钨灯丝扫描电镜为例，通过具体的案例介绍场发射与钨灯丝扫描电镜的性能和功能区别；详解能谱和电子背散射衍射等主要附件的功能、制样技巧和经典的应用案例。

讲座人介绍：

任子君，西安交通大学分析测试共享中心工程师，主要负责扫描电镜的使用、维护及新功能的开发。2017年在西北大学化学与材料学院获得硕士学位，主要从事纳米含能材料的制备与表征研究，擅长微区分析和相关设备的操作维护。