场发射透射电镜
产品型号:JEOL JEM-F200 (HR)
英文名称:Field Emission Transmission Electron Microscope (FE-TEM)
装机时间:2017年3月
管理员:李娇           82666180-803       lijiao@xjtu.edu.cn
             童慧敏        82666190-808       hmtong@mail.xjtu.edu.cn
             任子君        82666190-806       renzijun@xjtu.edu.cn
仪器简介:
日本电子JEM-F200 (HR)是一款新型的冷场发射电子显微镜。该设备配置有HADDF附件,并采用全新概念的四级聚光镜设计,分别控制亮度和汇聚角,能最大程度发挥出STEM功能;安装有两个100平方毫米无窗探头及双能谱混合器,将普通电镜能谱的分析能力拓展到原子尺度;低剂量曝光技术和图像三维重构软件可提供独特的图像三维重构功能。因此,该设备可广泛应用于金属、矿物、半导体、陶瓷、生物、高分子、复合材料、催化剂等物质的纳米尺度微分析,可实现的功能主要有:1、微观结构研究:材料的形貌、结构、缺陷和界面的微观分析,包括衍衬成像、明场像、暗场像、STEM像、高角环形暗场像、电子衍射、背散射电子/二次电子像和高分辨分析;2、材料微观结构成分研究:成分的定性和半定量分析,元素的点、线和面分析等。
收费说明:该设备实行成本核算、有偿使用,具体收费标准见预约系统说明。
开放安排:面向校内外开放,校内用户优先,所有用户通过学校仪器设备物联共享信息系统预约和使用设备。
预约和开放时间:每周一13点整开放下一周的预约;周一~周五工作时间对校内外同时开放,校内优先,非工作时间只对自主操作用户开放使用。
核心参数:
1、分辨率:点分辨率≤ 0.23 nm,晶格分辨率:≤ 0.104 nm,STEM HAADF分辨率:≤ 0.19 nm
2、束斑尺寸:TEM模式 1-20 nm;Probe模式 < 0.5-20 nm
3、加速电压:最高200 kV,加速电压最小步长 50 V
4、TEM放大倍数:LOW MAG模式 ×50-6 k; MAG模式 ×1 k-2000 k
5、STEM放大倍数:LOW MAG模式 ×200-15 K; MAG模式 ×20 K-150 M

 

 

六硼化镧透射电镜
产品型号:JEOL JEM-2100Plus
英文名称:Transmission Electron Microscope
装机时间:2017年5月
负责人:李娇           82666180-803        lijiao@xjtu.edu.cn
            童慧敏        82666190-808       hmtong@mail.xjtu.edu.cn
            任子君        82666190-806        renzijun@xjtu.edu.cn
仪器简介:
JEM-2100Plus是日本电子最新生产的一款六硼化镧高分辨透射电子显微镜,加速电压80-200 KV。该设备采用3级聚光镜设计在任何束斑尺寸下都可以提供高亮度电子束,大大提高了分析和衍射成像能力,可以轻松实现透射高分辨像、明/暗场像、STEM像和衍射像等功能。配合能谱仪可实现面扫、线扫、点扫等成分分析。因此,该设备与JEM-F200 (HR)在功能上形成中高搭配,可完成材料、生命、纳米等诸多领域的微结构分析需求。
收费说明:该设备实行成本核算、有偿使用,具体收费标准见预约系统说明。
开放安排:面向校内外开放,校内用户优先,所有用户通过学校仪器设备物联共享信息系统预约和使用设备。
预约和开放时间:每周一13点整开放下一周的预约;周一~周五工作时间对校内外同时开放,校内优先,非工作时间只对自主操作用户开放使用。
核心参数:
1、分辨率:点分辨率≤ 0.19 nm,线分辨率:≤ 0.14 nm
2、束斑尺寸:TEM模式 20-200 nm;EDS模式 < 0.5-25 nm
3、加速电压: 80, 100, 120, 160, 200 KV合轴数据内置,步长50 V
4、TEM放大倍数:LOW MAG模式 ×50-6 k; MAG模式 ×2 k-1500 k